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型號(hào):GZ-RTS-3

手持式四探針測(cè)試儀 \四探針測(cè)試儀\

描述:該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而的,用于測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間

    2024-04-17
  • 訪問(wèn)量

    908
詳細(xì)介紹
品牌恒奧德

手持式四探針測(cè)試儀 四探針測(cè)試儀 型號(hào):GZ-RTS-3


測(cè)量范圍寬、度、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作的手持式
體積僅為:185mm(長(zhǎng))*90mm(寬)*30mm(); 重量:350g;
使用鋰電池供電,次充電可連續(xù)使用100小時(shí);
 
    RTS-3型手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而的,用于測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
    儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、度、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等點(diǎn)。如有需要可加配測(cè)試臺(tái)使用。
    本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試。
 
 術(shù)  標(biāo)
 
 測(cè)量范圍
 電阻率:0.01~1999.9Ω.cm;  
 方塊電阻:0.1~19999Ω/□;
恒源
 電量程分為100μA、1mA兩檔,兩檔電連續(xù)可調(diào)
數(shù)字電壓表
 量程及表示形式:000.00~199.99mV; 分辨力:10μV;  
 輸入阻抗:>1000MΩ; 度:±0.1%;  
 顯示:以大屏幕LCD顯示讀數(shù),直觀清晰;性、量程自動(dòng)顯示;
四探針探頭基本標(biāo)
 間距:1±0.01mm;  針間緣電阻:≥1000MΩ; 機(jī)械游移率:≤0.3%;
 探針:碳化鎢或速鋼Ф0.5mm; 探針壓力:5~16 牛頓(總力);
四探針探頭應(yīng)用參數(shù)
 (見(jiàn)探頭附帶的合格證)
模擬電阻測(cè)量相對(duì)誤差
( 按JJG508-87行)
 1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字
整機(jī)測(cè)量zui大相對(duì)誤差
(用硅標(biāo)樣片:0.01-180Ω.cm測(cè)試)≤±5%
整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度
 ≤5%
外型尺寸
 185mm(長(zhǎng))*90mm(寬)*30mm()
重量
 350g
電源
 鋰電池,次充電可連續(xù)使用100小時(shí);
標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境
 溫度:23±2℃; 相對(duì)濕度:≤65%; 無(wú)頻干擾; 無(wú)強(qiáng)光直射

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北京恒奧德儀器儀表有限公司
:鵬
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