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描述：數(shù)字IC測(cè)試儀產(chǎn)品點(diǎn)： ◆器件好壞判別：當(dāng)不知被測(cè)器件的好壞時(shí)，儀器可判斷其好壞。◆器件型號(hào)判別：當(dāng)不知被測(cè)器件型號(hào)時(shí)，儀器可依據(jù)其邏輯能來(lái)判斷 其型號(hào)。◆器件老化測(cè)試：當(dāng)懷疑被測(cè)器件的穩(wěn)定性時(shí)，儀器可對(duì)其行連續(xù)老化測(cè)試。
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詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|
數(shù)字IC測(cè)試儀 型號(hào)：HAD-ICT-33C
HAD-ICT-33C數(shù)字集成電路測(cè)試儀,數(shù)字IC測(cè)試儀產(chǎn)品點(diǎn)：
◆器件好壞判別：當(dāng)不知被測(cè)器件的好壞時(shí)，儀器可判斷其好壞。
◆器件型號(hào)判別：當(dāng)不知被測(cè)器件型號(hào)時(shí)，儀器可依據(jù)其邏輯能來(lái)判斷 其型號(hào)。
◆器件老化測(cè)試：當(dāng)懷疑被測(cè)器件的穩(wěn)定性時(shí)，儀器可對(duì)其行連續(xù)老化測(cè)試。
◆器件代換查詢：儀器可顯示有無(wú)邏輯能*，引腳排列*的器件型號(hào)。
◆電壓調(diào)節(jié)選擇：3V、5V、9V、15V。
◆內(nèi)RAM數(shù)據(jù)修改：HAD-ICT-33C可從鍵盤對(duì)自己內(nèi)RAM中的數(shù)據(jù)行隨機(jī)修改。
◆EPROM、EEPROM器件讀入：HAD-ICT-33C可將64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)行讀入
并保存。
◆EPROM、EEPROM器件寫入：HAD-ICT-33C可將內(nèi)RAM中的數(shù)據(jù)寫入到64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM
器件中,并自動(dòng)校驗(yàn)。
◆ 新增RS232接口，與PC通訊，互送資料。
光學(xué)測(cè)角儀 型號(hào);HADC7
、主要用途：
HADC7光學(xué)測(cè)角儀結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，使用廣泛，它是用的方法測(cè)定角度的良好儀器，它與標(biāo)準(zhǔn)件或角度塊規(guī)可測(cè)量金屬與光學(xué)零件的角度；測(cè)量導(dǎo)軌的直線性；測(cè)量零件件的平行度；測(cè)量?jī)蓚€(gè)平面的垂直度。此外，還可以與多面體或角度塊組合使用行分度測(cè)量等作。
HADC7型光學(xué)測(cè)角儀是在C60的基礎(chǔ)上增加了測(cè)微器裝置。視場(chǎng)中直讀小格為1ˊ=60秒，而理論上測(cè)微器需轉(zhuǎn)8.33小格，合到測(cè)微器上的小格=7.2秒。即測(cè)微器每轉(zhuǎn)動(dòng)周（50小格）=視場(chǎng)中移動(dòng)6小格=360秒。本儀器之點(diǎn)為解決了測(cè)量范圍大與度之間的對(duì)矛盾。
HADC7光學(xué)測(cè)角儀
二、HADC7結(jié)構(gòu)原理：
本儀器有如下幾個(gè)分組成：
1、帶有標(biāo)尺分劃板的自準(zhǔn)平行光管；
2、具有平面性的作臺(tái)；
3、支架；
4、照明設(shè)備；
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