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簡介:HA-CIT-3100SYD能量色散X熒光分析儀能夠檢測(cè)從鈉到鈾的所有元素，檢測(cè)量：1ppm～99.99％
| 詳細(xì)說明: |
| 1、 性能參數(shù)及標(biāo) 分析元素范圍：S-U； 元素含量分析范圍：0.0001%-99.99%（采用1024道多道分析器）； 采用美航天的Si （PIN） 半導(dǎo)體探測(cè)器計(jì)數(shù)，能量分辨率160eV； 測(cè)量范圍：2－30KeV； 測(cè)量下限：Cd:15ppm;Pb、Hg:10ppm;Br:10ppm;Cr:30ppm;（以塑膠標(biāo)樣為例）； 測(cè)量物質(zhì)狀態(tài)：固體、粉末、液體均可檢測(cè)，制樣簡單； 校正方式：采用歐盟RoHS塑膠標(biāo)樣校準(zhǔn)數(shù)據(jù)； 重復(fù)性：<0.1%； 穩(wěn)定性：< 0.01%； 壓：5kV-40kV（激發(fā)源40KV-鎢靶微型X射線管）； 管：10μA-100μA； 整機(jī)能量分辨率：180-190eV； 檢測(cè)時(shí)間：120S～240S； 額定率：50W； 儀器重量：25Kg； 體化，性能穩(wěn)定，運(yùn)行可靠，性價(jià)比；中文應(yīng)用軟件，操作簡單，測(cè)量時(shí)間短；同時(shí)配備PC機(jī)，分析儀通過無線藍(lán)牙可單和PC行通信測(cè)試，方便使用； 適用于電子產(chǎn)品、具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）檢測(cè)； 2 、儀器硬件配置 40KV小型X光管； 美航天的Si（PIN）半導(dǎo)體探測(cè)器計(jì)數(shù)，能量分辨率160eV； 自制放大電路及分析主機(jī)； 樣杯兩套； 制樣機(jī)臺(tái)； 制樣模具套； 計(jì)算機(jī)臺(tái)（P4，液晶顯示屏）； 打印機(jī)臺(tái)（噴墨打印機(jī)）； 分析軟件套； |
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